當(dāng)前位置：首頁 > 產(chǎn)品中心 > 3D形貌儀/白光干涉輪廓儀 > 彩色共聚焦輪廓儀 > QuickOCT-4D —膜厚輪廓儀
簡要描述：QuickOCT-4D™ 將單點(diǎn)可見光光譜域光學(xué)相干斷層掃描 （SD-OCT） 傳感器與高速納米編碼的 X/Y/Z 運(yùn)動控制平臺相結(jié)合，可以在高達(dá) 66 kHz 的單次測量中捕獲透明薄膜樣品中每層的平面。QuickOCT-4D™ 穿透深度（高達(dá) 100μm）和軸向分辨率 （5nm） 針對半導(dǎo)體、生命科學(xué)和制藥行業(yè)的多層透明薄膜、平面基板和功能層的測量進(jìn)行了優(yōu)化。
產(chǎn)品型號：廠商性質(zhì)：代理商產(chǎn)品資料：更新時間：2025-09-04訪 問 量： 1951產(chǎn)品分類
Product Category詳細(xì)介紹
QuickOCT-4D™ 將單點(diǎn)可見光光譜域光學(xué)相干斷層掃描 （SD-OCT） 傳感器與高速納米編碼的 X/Y/Z 運(yùn)動控制平臺相結(jié)合，可以在高達(dá) 66 kHz 的單次測量中捕獲透明薄膜樣品中每層的平面。QuickOCT-4D™ 穿透深度（高達(dá) 100μm）和軸向分辨率 （5nm） 針對半導(dǎo)體、生命科學(xué)和制藥行業(yè)的多層透明薄膜、平面基板和功能層的測量進(jìn)行了優(yōu)化。
系統(tǒng)特點(diǎn)
· 緊湊的臺式裝置，帶環(huán)境外殼
· 單點(diǎn)、非接觸式、可見光、光譜域光學(xué)相干斷層掃描 （SD-OCT） 傳感器，測量速率高達(dá) 66 kHz
· 針對測量高反射材料上多層透明薄膜的形貌和厚度進(jìn)行了優(yōu)化
· 納米編碼的 X/Y/Z 運(yùn)動，帶有磁性直線電機(jī)和交叉滾子軸承，可在 100mm （X）、100mm （Y）、50mm （Z） 上快速光柵或螺旋掃描
· 可用于樣品和托盤固定的真空吸盤
· 用戶友好的 CalcuSurf-4D™ 配方生成、數(shù)據(jù)采集、表面形貌和多層薄膜分析軟件允許優(yōu)化測量采樣密度，從而在最高通量下實(shí)現(xiàn)優(yōu)良覆蓋
SD-OCT技術(shù)概述
產(chǎn)品咨詢