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FR-ES: 精簡薄膜厚度測量特性分析系統
FR-ES 是一款輕巧便捷膜厚測量分析系統。 使用 FR-ES，用戶可以在 370-1020nm 光譜范圍內進行反射率和透射率測量。
FR-ES 機型提供出色的膜厚測量分析性能。可用于各種不同的應用，例如：薄膜厚度、折射率、顏色、透射率、反射率等等.
FR-ES 機型提供三種波長范圍配置: VIS/NIR (370- 1020nm, NIR-N1 (850-1050nm), NIR (900-1700nm).
Then, there is a wide range of Accessories, such as:
§ 濾光片可阻擋某些光譜范圍內的光
§ FR-Mic 提供微米級別區域進行測量
§ 手動載物臺, 100x100mm或 200x200mm
§ 薄膜/比色皿支架用于吸光度/透射率和化學濃度測量的薄膜/比色皿支架
§ 積分球用于漫反射和全反射反射率測量
通過不同模塊的組合設置滿足任何最終用戶的需求
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